주식회사휴먼시스템

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검사 기준의 불균일

작업자 숙련도에 따라 검사 결과가 달라지는 문제

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미세 불량 검출의 어려움

육안으로 확인하기 어려운 미세 결함 및 패턴 불량

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검사 데이터의 활용 부족

이미지와 검사 결과가 기록만 되고 분석으로 연결되지 않음

AI 기반 자동 판별

학습된 이미지 데이터를 기반으로
불량 유형을 자동 분류

실시간 검사 및 알람

검사 결과를 즉시 판단하고
이상 발생 시 실시간 알림 제공

데이터 기반 품질 개선

누적된 검사 데이터를 분석하여
불량 패턴 및 원인 도출

자동 비전 검사

제품 외관, 표면 상태, 패턴 이상 등을 AI가 자동으로 판별

현장 맞춤형 학습

실제 공정 환경에서 수집된 데이터를 기반으로 공정 특성에 맞게 학습 가능

MES·QMS 연계

HM-MES, HM-QMS와 연동하여 검사 결과를 생산·품질 데이터로 통합 관리

Defect Detection

불량 유형 자동 분류 및
양/불 판정 수행

Image Data Management

검사 이미지 저장 및 이력 관리
LOT, 공정, 설비 기준 추적 가능

Real-time Monitoring

검사 결과 실시간 시각화 및
현장 즉시 대응 지원

Learning & Improvement

신규 불량 유형 발생 시
추가 학습을 통한 지속적인 정확도 향상

YMS-TEST

YMS-Test Result Analysis System

반도체 디바이스 테스트 공정품질 관리

특장점 ①

미세 불량 검출

육안으로 구분하기 어려운
미세 결함까지 안정적으로 검출

특장점 ②

검사 표준화

작업자에 의존하지 않는
일관된 검사 기준 유지

특장점 ③

HW 검사장비 연동

휴먼시스템 검사장비와 연계하여
현장 최적화된 검사 환경 구축

HM-AI Vision 도입 효과

검사 누락 및 오판 감소로 품질 신뢰도 향상

생산성 향상, 작업 표준 정착, 숙련도 의존도 감소, 전략적 의사결정 가능, 리스크 사전 관리

불량률 대폭 감소, 검사 비용 절감, 품질 안정성 확보

다운타임 최소화, 유지보수 비용 절감, 설비 수명 연장